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CCD全譜直讀光譜儀OES8000采用CCD檢測器全譜測試技術,可測試覆蓋波長范圍內的所有譜線，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護和實驗室放置。OES8000CCD全譜...

X射線熒光多鍍層厚度測量儀是一款快速、無損、測量金屬鍍層厚度的儀器，主要測試鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍鉻、鍍銅、鍍銀等金屬鍍層厚度，多可以測五層，采用上照式照射，滿足不同規...

耐火材料元素分析儀 X射線熒光光譜法 天瑞儀器生產的EDX6000C，是在累計數萬臺以上的能量色散型X射線熒光分析裝置的業績基礎上，十年磨一劍，開發出將多種測試需求融于一體的新一代X熒光分析裝置—EDX6000C，配置大面積石墨烯超薄窗口的電制冷半導體SDD檢測器、超近低損耗測試光路、超薄鈹窗牛津光管激發光源、西門子PLC（單杯位、9杯位、12杯位、20杯位）控制 多樣品腔系統

探險者EXPLORER手持式X射線熒光光譜儀是天瑞儀器結合10年手持便攜式研發經驗，集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術，研制出具有自主知識產權的，全新一代手持XRF光譜儀產品。

X熒光光譜儀是熒光光譜儀的一種，使用高效而實用的正比計數盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。Think600是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術和經驗，以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。